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砷化镓单晶位错密度的测试方法
Gallium arsenide single crystal--Determination of dislocation density
参考页数:9
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硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
参考页数:9
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氮化镓材料中镁含量的测定 二次离子质谱法
参考页数:6
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锗单晶位错密度的测试方法
Germanium monocrystal--Inspection of dislocation etch pit density
参考页数:10
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硅材料中氧含量的测试 惰性气体熔融红外法
参考页数:7
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氯硅烷中三氯氧磷、三氯化磷的测定 气相色谱质谱联用法
参考页数:7
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氯硅烷中甲基二氯硅烷、三甲基氯硅烷、甲基三氯硅烷的测定 气相色谱质谱联用法
参考页数:8
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硅多晶气氛区熔基磷检验方法
Polycrystalline silicon--Examination method--Zone-melting on phosphorus under controlled atmosphere
参考页数:9
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