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 CCS中国标准分类  
01  SJ 2354.14-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法
Method of measurement for excess noise factor of PIN and avalanche photodiodes
价格:¥0.00
02  SJ 2354.13-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
雪崩光电二极管倍增因子的测试方法
Method of measurement for multiplication factor of PIN and avalanche photodiodes
价格:¥0.00
03  SJ 2354.12-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法
Method of measurement for temperature factor of reverse breakdown voltage of PIN and avalanche photodiodes
价格:¥0.00
04  SJ 2354.11-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
PIN、雪崩光电二极管列陈盲区宽度的测试方法
Method of measurement for width of blind zone of PIN and avalanche photodiode matrix
价格:¥0.00
05  SJ 2354.10-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
PIN、雪崩光电二极管列陈串光因子的测试方法
Method of measurement for cross-light factor of PIN and avalanche photodiodes matrix
价格:¥0.00
06  SJ 2354.9-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法
Method of measurement for noise equivalent power of PIN and avalanche photodiodes
价格:¥0.00
07  SJ 2354.8-1983(作废) 发布日期:  实施日期:19840701
PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法
Method of measurement for pulse rise time and fall time of PIN and avalanche photodiodes
价格:¥0.00
08  SJ 2658.13-1986(作废) 发布日期:  实施日期:19861001
半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for output optical power temperature coefficient
价格:¥0.00
09  SJ 2658.12-1986(作废) 发布日期:  实施日期:19861001
半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for peak emission wavelength and spectral half width
价格:¥0.00
10  SJ 2658.11-1986(作废) 发布日期:  实施日期:19861001
半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法
Methods of measurement for semiconductor infrared diodes Methods of measurement for pulse response characteristics
价格:¥0.00
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