|
黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
|
微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法
Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Guidelines for determining the carbon content of steels using calibration curve method
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
|
表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
电子探针分析标准样品通用技术条件
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
|
|
|
半导体探测器X射线能谱仪通则
Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
|
表面化学分析.二次离子质谱.用均匀掺杂物质测定硅中硼的原子浓度
Surface chemical analysis.Secondary-ion mass spectrometry.Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
|
表面化学分析.溅射深度剖析.用层状膜系为参考物质的优化方法
Surface chemical analysis.Sputter depth profiling.Optimization using layered systems as reference materials
价格：￥0.00
|
|
|
|
|
