| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
| 标准号:GB/T 4326-2006 |
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| 标准号： |
GB/T 4326-2006 |
| 英文名称： |
Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient |
| 中标分类： |
冶金>>半金属及半导体材料分析方法 |
| 发布日期： |
2006-07-18 |
| 发布单位： |
CN-GB |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2006-11-01 |
| ICS分类： |
金属材料试验综合>>金属材料试验综合 |
| 起草单位/标准公告： |
北京有色金属研究总院 |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
16P.;A4 |
| 被代替标准： |
GB/T 4326-1984 |
| 内容提要（CN）： |
测量;半导体;试样制备;非本征半导体单晶;霍尔迁移率;霍尔系数;测量仪器 |
| 内容提要（EN）： |
MEASUREMENT;MEASURING;MEASUREMENTS;SEMICONDUCTORS;SPECIMEN PREPARATION;SAMPLE PREPARATION;MEASURING INSTRUMENTS;TESTING MEASUREMENT |
| 归属： |
中国 |
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