| 标准号： |
NF C83-133-1990 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electronic components. Fixed multilayer ceramic chip capacitors. Section specification. Blank detail specification. (specification CECC 32 100 and CECC 32 101). |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
1990-06-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1990-06-20 |
| ICS分类： |
陶瓷电容器和云母电容器>>陶瓷电容器和云母电容器 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Composants électroniques. Syst?me CENELEC d'assurance de la qualité. Condensateurs fixes chipses ? diélectrique en céramique multicouche - Spécification intermédiaire : spécification particuli?re cadre. |
| 页数： |
64P.;A4 |
| 采用关系： |
CECC 32100-1988,IDT;CECC 32101-1988,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Capacitors;Ceramic capacitors;Ceramics;Chip capacitors;Chips;Components;Control charts;Design;Detail specification;Dielectric materials;Dimensions;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Fixed capacitors;Harmonization;Limit deviations;Marking;Measuring techniques;Multilayer capacitors;Properties;Quality assessment systems;Quality assurance systems;Quality testing;Ratings;Sectional specification;Specification (approval);Testing |
| 归属： |
法国 |
