| 标准号： |
NF C20-317-2003 |
| 英文名称： |
Programmes for reliability growth. |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>可靠性和可维护性 |
| 发布日期： |
2003-12-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2003-12-05 |
| ICS分类： |
质量综合>>质量综合 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Programmes de croissance de fiabilité. |
| 页数： |
47P.;A4 |
| 被代替标准： |
UTE C20-317U-1990 |
| 采用关系： |
EN 61014-2003,IDT;IEC 61014-2003,IDT |
| 内容提要（CN）： |
缺陷;数学计算;失效率;计算机软件;程序;定义;电气工程;电气元件;计算机硬件;电子工程;故障;试验条件;试验;可靠度;电子设备及元件;硬件;可靠性增长 |
| 内容提要（EN）： |
Computer hardware;Computer software;Defects;Definition;Definitions;Electrical components;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Failure;Failure rates;Hardware;Mathematical calculations;Programmes;Reliability;Reliability growth;Testing;Testing conditions |
| 归属： |
法国 |
