标准分类 Standards |
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中文名称:金属氧化半导体场效应晶体管(MOSFET)的基本温度稳定性试验 |
标准号:EN 62373-2006 |
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标准号: |
EN 62373-2006 |
英文名称: |
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006); German version EN 62373:2006 |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体三极管 |
发布日期: |
2007-01 |
发布单位: |
EN |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2007-01-01 |
ICS分类: |
三极管>>三极管 |
正文语言: |
英语 |
原文名称: |
Stabilit?tsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET) (IEC 62373:2006); Deutsche Fassung EN 62373:2006 |
页数: |
14P.;A4 |
采用关系: |
DIN EN 62373-2007,IDT;IEC 62373-2006,IDT |
内容提要(CN): |
检验设备;元部件;定义;电气工程;电子工程;电子设备及元件;场效应晶体管;极限(数学);测量设备;MOSFET;额定值;半导体器件;稳定性;温度应力;试验;试验装置;热应力;晶体管 |
内容提要(EN): |
Checking equipment;Components;Definition;Definitions;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Field-effect transistors;Limits (mathematics);Measuring equipment;MOSFET;Ratings;Semiconductor devices;Stability;Temperature stress;Testing;Testing devices;Thermal stress;Transistors |
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