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中文名称:电子元器件质量评定协调体系.光电子和液晶半导体器件总规范
标准号:BS EN 120000-1996
标准号: BS EN 120000-1996
英文名称: Harmonized system of quality assessment for electronic components. General specification: semiconductor optoelectronic and liquid crystal devices
中标分类 电子元器件与信息技术>>半导体发光器件
发布日期: 1996-09-15
发布单位: GB-BSI
标准状态 请与本站工作人员进行确认
实施日期: 1996-09-15
ICS分类 电子显示器件>>电子显示器件
起草单位/标准公告: BSI
正文语言 英语
页数: 276P.;A4
被代替标准: 93/203878 DC-1993;BS CECC 20000-1983
采用关系: EN 120000-1996,IDT
内容提要(CN): 资格鉴定;规范(批准);光分布;耦合器;耐久试验;光电晶体管;认可试验;发光二极管;电路;外观检查(试验);发光器件;液晶器件;电阻测量;质量保证体系;手册;光电子器件;检验;电学测量;半导体器件;电压测量;评估的质量;性能试验;作标记;电流测量;名称与符号;光学测量;抽样方法;环境试验;电子设备及元件;光电二极管;机械试验;验证;缺陷与故障;规范(验收);能力鉴定;质量控制;试验条件;电气试验;试验设备;详细规范;统计质量控制
内容提要(EN): Approval testing;Capability approval;Circuits;Couplers;Current measurement;Defects;Designations;Detail specification;Electrical measurement;Electrical testing;Electronic equipment and components;Endurance testing;Environmental testing;Generic specification;Handbooks;Inspection;Light distribution;Light-emitting devices;Light-emitting diodes;Liquid crystal devices;Liquid crystals;Marking;Mechanical testing;Optical measurement;Optoelectronic devices;Performance testing;Photodiodes;Phototransistors;Qualification approval;Quality assessment;Quality assurance systems;Quality control;Resistance measurement;Sampling methods;Semiconductor devices;Specification;Specification (approval);Statistical quality control;Test equipment;Testing conditions;Verification;Visual inspection (testing);Voltage measurement
归属: 英国
下载:“半导体发光器件”相关标准(下载...)

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下载“电子显示器件”相关标准(下载...)

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