标准号: |
BS IEC 60747-9-2007 |
英文名称: |
Semiconductor devices - Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体三极管 |
发布日期: |
2007-11-30 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2007-11-30 |
ICS分类: |
三极管>>三极管 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
60P.;A4 |
被代替标准: |
04/30113287 DC-2004;BS IEC 60747-9-1998 |
采用关系: |
IEC 60747-9-2007,IDT |
内容提要(CN): |
验收检验;双极;双极晶体管;电路;元件;连接件;测量用连接件;定义;尺寸选定;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;限值(数学);作标记;标记;测量;测量技术;特性;合格试验;额定值;整流二极管;基准方法;可靠度;常规检验;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;测试;晶体管;警告符号 |
内容提要(EN): |
Acceptance inspection;Bipolar;Bipolar transistors;Circuits;Components;Connections;Connections for measurement;Definitions;Dimensioning;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuring techniques;Properties;Qualification tests;Ratings;Rectifier diodes;Reference methods;Reliability;Routine check tests;Semiconductor devices;Semiconductors;Signs;Specification (approval);Symbols;Testing;Transistors;Warning symbols |
归属: |
英国 |