标准分类 Standards |
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中文名称:半导体器件. 微型机电设备. 室温下独立导电薄膜的机电弛豫试验方法 |
标准号:BS IEC 62047-29-2017 |
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标准号: |
BS IEC 62047-29-2017 |
英文名称: |
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Electromechanical relaxation test method for freestanding conductive thin-films under room temperature |
中标分类: |
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发布日期: |
2018-03-15 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2018-03-15 |
ICS分类: |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
14P.;A4 |
引用标准: |
IEC 62047-2-2006;IEC 62047-3-2006;IEC 62047-21-2014;IEC 62047-22-2014;IEC 62047-8-2011 |
采用关系: |
IEC 62047-29-2017,IDT |
内容提要(EN): |
Analysis;Test methods;Electromechanical devices;Semiconductor devices;Thin films |
归属: |
英国 |
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