| 标准号： |
DIN EN 61788-22-1-2018 |
| 英文名称： |
Superconductivity - Part 22-1: Superconducting electronic devices - Generic specification for sensors and detectors (IEC 61788-22-1:2017); German version EN 61788-22-1:2017 |
| 中标分类： |
电工>>电工材料和通用零件综合 |
| 发布日期： |
2018-0801 |
| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
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| 实施日期： |
2018-08-01 |
| ICS分类： |
导体材料>>导体材料 |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
德语 |
| 原文名称： |
Supraconductivité - Partie 22-1: Composants électroniques supraconducteurs - Spécification générique pour capteurs et détecteurs (IEC 61788-22-1:2017); Version allemande EN 61788-22-1:2017 |
| 页数： |
32P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 61788-22-1-2018-08;DIN EN 61788-22-1-2016-03 |
| 被代替标准： |
DIN EN 61788-22-1-2016 |
| 引用标准： |
DIN EN 60027-1-2007;DIN EN 60027-2-2007;DIN EN 60027-3-2007;DIN EN 60027-4-2008;DIN EN 60027-6-2008;DIN EN 60027-7-2011;IEC 60027-1-1992;IEC 60027-1 CORR 1-1993;IEC 60027-1 AMD 1-1997;IEC 60027-1 AMD 2-2005;IEC 60027-2-2005;IEC 60027-3-2002;IEC 60027-4-2006;IEC 60027-6-2006;IEC 60027-7-2010;IEC 60050-815-2015;IEC 60417-DB-2002;IEC 60617-DB-2001;ISO 1000-1973;ISO 7000-2014;ISO/TS 80004-2-2015 |
| 采用关系： |
EN 61788-22-1-2017,IDT;IEC 61788-22-1-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Alpha-particles;Classification;Definitions;Detectors (circuits);Electric conductors;Electrical engineering;Electromagnetic wave;Electrons;Ions;Magnetic fields;Materials;Measurement;Measuring techniques;Performance;Photons;Properties;Quality assurance;Sensors;Superconductivity;Superconductors;Testing;Wear-quantity |
| 内容提要（QT）： |
Ion;Electron;Performance;Mesurage;Superconductivité;Tête de lecture;Garantie de la qualité;Fonctionnement;Assurance de la qualité;Caractéristique d'utilisation;Paramètre d'essai;Définition;Etoffe;Attribut;Particule alpha;Classement;Métrologie;Matériaux;Matériau conducteur électrique;Propriété;Metrologie;Caractéristique de performance;Mesurage, essai et instruments;Classification;Détecteur;Photon;Technique de mesure;Conducteur électrique;Electrotechnique;Caractéristique;Matière;Méthode de mesure;Superconducteur;Champ magnétique;Essai;Senseur;Matériau superconducteur;Substance;Circuit détecteur;Matériau |
| 归属： |
德国 |
