| 标准号： |
DIN EN IEC 62884-3-2018 |
| 英文名称： |
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods (IEC 62884-3:2018); German version EN IEC 62884-3:2018 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
2018-1001 |
| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-10-01 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
德语 |
| 原文名称： |
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 3: Méthodes d'essai de vieillissement en fréquence (IEC 62884-3:2018); Version allemande EN IEC 62884-3:2018 |
| 页数： |
15P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN IEC 62884-3-2018-10;DIN EN 62884-3-2016-08 |
| 被代替标准： |
DIN EN 62884-3-2016 |
| 引用标准： |
IEC 60027-1-1992;IEC 60027-1 CORR 1-1993;IEC 60027-1 AMD 1-1997;IEC 60027-1 AMD 2-2005;IEC 60027-2-2005;IEC 60027-3-2002;IEC 60027-4-2006;IEC 60027-6-2006;IEC 60027-7-2010;IEC 60050-561-2014;IEC 60068-1-2013;IEC 60068-2-14-2009;IEC 60469-2013;IEC 60617-DB-2001;IEC 60679-1-2017;IEC 60679-4-1997;IEC 60679-5-1998;IEC 61760-1-2006;IEC 62884-1-2017;ISO 80000-1-2009 |
| 采用关系： |
EN IEC 62884-3-2018,IDT;IEC 62884-3-2018,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Age inspection;Ageing (materials);Ageing tests;Approval;Crystals (electronic);Dielectric;Dielectric devices;Electrical engineering;Electronic equipment and components;Electrostatic;Electrostatic devices;Frequencies;Measurement;Measurement conditions;Measuring techniques;Non-destructive;Oscillators;Piezoelectric;Piezoelectric devices;Prediction;Quality;Quality assessment;Quality assessment procedures;Quality requirements;Quartz crystal controlled oscillators;Quartz crystals;Specification (approval);Statistical data;Testing;Types;Legalization;Acceptance |
| 内容提要（QT）： |
Evaluation de la qualité;Diélectrique;Piézoélectrique;Fréquence;Procédure d'assurance de la qualité;Résonateure à quartz;Oscillateur à quartz;Composant piézoélectrique;Composant électronique;Oscillateur;Prédiction;Donnée statistique;Assurance de la qualité;Fréquence électrique;Forme de construction;Qualification;Métrologie;Reconnaissance;Non destructif;Dispositif électronique;Type;Essai de vieillissement;Immatriculation;Agrément;Metrologie;Qualité;Exigences de qualité;Dispositif diélectrique;Mesurage, essai et instruments;Cristal électronique;Technique de mesure;Condition de mesure;Electrotechnique;Vieillissement (matériau);Matériel et composants électroniques;Mesurage;Spécification (approbation);Méthode de mesure;Prototype;Mode;Equipement piézoélectrique;Equipement électrostatique;Essai;Homologation;Electrostatique |
| 归属： |
德国 |
