| 标准号： |
ISO 17470-2014 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2014-01-15 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
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| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
18P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO 17470-2004;ISO/FDIS 17470-2013 |
| 引用标准： |
ISO 14594-2003 |
| 采用关系： |
BS ISO 17470-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Definitions;Electron beams;Methods of analysis;Microanalysis;Microbeam analysis;Wavelength dispersive;X-ray spectrometry |
| 归属： |
国际 |
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