| 标准号： |
ISO 29301-2017 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures |
| 中标分类： |
仪器仪表>>放大镜与显微镜 |
| 发布日期： |
2017-1201 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
光学设备>>光学设备 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik;ISO/TC 202 Microbeam analysis;ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
44P.;A4 |
| 附注： |
History:ISO 29301-2017-12;ISO/FDIS 29301-2017-09;ISO/DIS 29301-2017-01;ISO 29301-2010-06;ISO/FDIS 29301-2010-02;ISO/DIS 29301-2009-01 |
| 被代替标准： |
ISO 29301-2010;ISO/FDIS 29301-2017 |
| 引用标准： |
ISO GUIDE 30-2015;ISO GUIDE 35-2017;ISO/IEC GUIDE 98-3-2008;ISO 5725-1-1994;ISO 16700-2016;ISO/IEC 17025-2005;ISO 17034-2016 |
| 采用关系： |
BS ISO 29301-2018,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analytical methods;Calibration;Definitions;Diffraction;Electron beams;Electron diffraction;Electron microscopes;Electron microscopy;Enlarging;Focusing;Image production;Magnification;Methods of analysis;Microanalysis;Microbeam analysis;Microscopy;Optical instruments;Picture transmissions;Scaling;Sharpness;Transmission |
| 归属： |
国际 |
