| 标准号： |
DIN EN 50364-2019 |
| 英文名称： |
Product standard for human exposure to electromagnetic fields from devices operating in the frequency range 0 Hz to 300 GHz, used in Electronic Article Surveillance (EAS), Radio Frequency Identification (RFID) and similar applications; German version EN 50364:2018 |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2019-05-00 |
| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2019-05-01 |
| ICS分类： |
辐射防护>>辐射防护 |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
德语 |
| 原文名称： |
Norme de produit pour l'exposition humaine aux champs électromagnétiques émis par les dispositifs fonctionnant dans la gamme de fréquences de 0 Hz à 300 GHz, utilisés pour la surveillance électronique des objets (EAS), l'identification par radiofréquence (RFID) et les applications similaires; Version allemande EN 50364:2018 |
| 页数： |
14P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 50364-2019-05;DIN EN 50364-2017-10;DIN EN 50364-2010-11;DIN EN 50364-2009-09;DIN EN 50364-2002-05;DIN EN 50364-2001-05 |
| 被代替标准： |
DIN EN 50364-2010;DIN EN 50364-2017 |
| 引用标准： |
DIN EN 62311-2018;DIN EN 62369-1-2010;prEN 62311-2018;EN 62369-1-2009;1999/519/EGEmpf-1999-07;2013/35/EU-2013-06;2014/35/EU-2014-02;2014/53/EU-2014-04 |
| 采用关系： |
EN 50364-2018,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Audio equipment;CE marking;Definitions;Electric fields;Electromagnetic compatibility;Electromagnetic fields;Electronic engineering;Electronic equipment;EMC;Evaluations;Exposure;Exposure time;Field strength (electric);Frequency measurement;Frequency ranges;High frequencies;Identification;Limitation;Limits (mathematics);Low frequencies;Magnetic fields;Mathematical calculations;Measurement;Measuring instruments;Measuring techniques;Medical sciences;People;Persons;Product standards;Radio Frequency Identification;Radio frequency identifications;Radio-frequency signals;RFID |
| 内容提要（QT）： |
Mesurage de fréquence;Identification;Matériel de reproduction du son;Haute fréquence;Méthode de calcul;Bande de fréquence;Signal haute fréquence;Mesurage;Microélectronique;Durée d'exposition;RFID;Exposition;Electronique moléculaire;Personne;Champ électromagnétique;Homme;Métrologie;Compatibilité électromagnétique;Dispositif électronique;Déplacement;Code;Instrument de mesure;HF (fréquence);Limite (mathématiques);Electronique;Marquage CE;CEM;Metrologie;Intensité de champ électrique;Evaluation;Mesurage, essai et instruments;Appareil de mesure;Définition;Technique de mesure;Sciences médicales;Exposition à la lumière;Norme de produit;HF;Humain;Calcul mathématique;LF;Identification par radio-fréquence;Méthode de mesure;Champ électrique;Champ magnétique;Instrument de mesurage;Basse fréquence |
| 归属： |
德国 |
