标准分类 Standards |
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中文名称:采用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝铜, 铝硅和铝铜硅合金中的痕量金属杂质的标准试验方法 |
标准号:ASTM F1845-2008(2016) |
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标准号: |
ASTM F1845-2008(2016) |
英文名称: |
Standard Test Method for Trace Metallic Impurities in Electronic Grade Aluminum-Copper, Aluminum-Silicon, and Aluminum-Copper-Silicon Alloys by High-Mass-Resolution Glow Discharge Mass Spectrometer |
中标分类: |
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发布日期: |
2008 |
发布单位: |
US-ASTM |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
确认日期: |
2016 |
ICS分类: |
导体材料>>导体材料 |
起草单位/标准公告: |
F01.17 |
***: |
Test |
页数: |
5P.;A4 |
内容提要(EN): |
aluminum; aluminum-copper alloys; aluminum-copper-silicon alloys; aluminum-silicon alloys; electronics; glow discharge mass spectrometer (GDMS); purity analysis; sputtering target; trace metallic impurities; |
归属: |
美国 |
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