标准分类 Standards |
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中文名称:红外焦平面阵列参数测试方法 |
标准号:GB/T 17444-2013 |
价格:¥0.00 |
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标准号: |
GB/T 17444-2013 |
英文名称: |
Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>红外器件 |
发布日期: |
2013-11-12 |
发布单位: |
CN-GB |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2014-04-15 |
ICS分类: |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
起草单位/标准公告: |
中国科学院上海技术物理研究所 |
正文语言: |
汉语 |
页数: |
27P.;A4 |
被代替标准: |
GB/T 17444-1998 |
内容提要(CN): |
标准化参数;焦平面阵列;测量;试验;规范;红外线;红外线辐射;半导体器件 |
内容提要(EN): |
STANDARDIZED PARAMETERS;;MEASUREMENTS;MEASUREMENT;MEASURING;EXAMINATION;REFRACTORY PRODUCTS;TESTING;TESTS;CRUDE OILS;DEPOSIT;bristles;TEST;TRIALS;SPECIFICATIONS;SPECIFICATION;INFRA-RED;INFRARED WAVES;INFRARED RADIATION;SEMICONDUCTOR DEVICES |
归属: |
中国 |
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