| 标准号： |
NF X21-013-2012 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy. |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布日期： |
2012-05-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2012-05-25 |
| ICS分类： |
物理化学分析方法>>物理化学分析方法 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Analyse par microfaisceaux. Analyse par microsonde électronique (microsonde de Castaing). Méthodes d'analyse par cartographie élémentaire en utilisant la spectrométrie ? dispersion de longueur d'onde |
| 页数： |
16P;A4 |
| 采用关系： |
ISO 11938-2012,IDT |
| 内容提要（CN）： |
相关法;数据处理;定义(术语);电子束;电子测量装置;冶金;微量分析;矿物学;光谱学;表面检验;试验方法;试验;X射线 |
| 内容提要（EN）： |
Correlation methods;Data processing;Definitions;Electron beams;Electronic measuring devices;Metallurgy;Microanalysis;Mineralogy;Spectroscopy;Surface inspections;Test methods;Testing;X-ray |
| 归属： |
法国 |
