| 标准号： |
ISO 25498-2018 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Selected area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布日期： |
2018-0301 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
物理化学分析方法>>物理化学分析方法 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik;ISO/TC 202 Microbeam analysis;ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
38P.;A4 |
| 附注： |
History:ISO 25498-2018-03;ISO/FDIS 25498-2017-11;ISO/DIS 25498-2017-01;ISO 25498-2010-06;ISO/FDIS 25498-2010-02;ISO/DIS 25498-2009-02 |
| 被代替标准： |
ISO 25498-2010;ISO/FDIS 25498-2017 |
| 引用标准： |
ASTM E 3-2011;ISO 15932-2013;ISO/IEC 17025-2017 |
| 采用关系： |
17/30343628 DC-2017,IDT;BS ISO 25498-2018,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analytical methods;Definitions;Diffraction;Electron beams;Electron diffraction;Electron microscopes;Electron microscopy;Methods of analysis;Microanalysis;Microbeam analysis;Microscopy;Optical instruments;Scaling;Transmission |
| 归属： |
国际 |
