| 标准号： |
IEC 60759 AMD 1-1991 |
| 英文名称： |
Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers; amendment 1 |
| 中标分类： |
仪器仪表>>质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置 |
| 发布日期： |
1991-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
辐射测量>>辐射测量 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 45 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Prüfverfahren für Halbleiter-Spektrometer zur Messung der R？ntgen-Leistung; ？nderung 1 |
| 页数： |
3P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60759 AMD 1 (1991-11) |
| 引用标准： |
IEC 60759-1983 |
| 采用关系： |
SS-IEC 759-1994,IDT |
| 内容提要（CN）： |
剂量计;测量;分光计;试验;半导体;电气工程;分析器;放射性;核技术;X射线;探测器;电子工程;定义 |
| 内容提要（EN）： |
Analyzers;Definitions;Detectors (circuits);Dosimeters;Electrical engineering;Electronic engineering;Measurement;Nuclear technology;Radioactivity;Semiconductors;Spectrometers;Testing;X-rays;Radiation measuring instruments |
| 内容提要（QT）： |
Analysator;Begriffe;Definition;Detektor;Elektronik;Elektrotechnik;Halbleiter;Kerntechnik;Messung;Prüfverfahren;Radioaktivit？t;R？ntgenstrahlung;Spektrometer;Strahlungsmessger？t |
| 归属： |
国际 |
