| 标准号： |
IEC 60747-16-4 Edition 1.1-2011 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2011-04 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Teil 16-4: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Schalter |
| 页数： |
32P.;A4 |
| 附注： |
Diese bilinguale Version (2011-11) ersetzt die englische Version. |
| 引用标准： |
IEC 60617-DB-2001;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-4-2007;IEC 60747-16-1-2001;IEC 60747-16-1 AMD 1-2007;IEC 60747-16-1 Edition 1.1-2007;IEC 60748-2-1997;IEC 60748-3-1986;IEC 60748-4-1997;IEC 61340-5-1-2007;IEC/TR 61340-5-2-2007 |
| 内容提要（CN）： |
基本术语;定义(术语);尺寸选定;电气工程;电子工程;电子设备及元件;功能;集成电路工艺;集成电路;极限(数学);测量;测量技术;微电子学;微波电路;参数;半导体器件;半导体内存;半导体;开关电路;术语学;词汇表 |
| 内容提要（EN）： |
Basic terms;Definitions;Dimensioning;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Functions;Integrated circuit technology;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microwave circuits;Parameters;Semiconductor devices;Semiconductor memory;Semiconductors;Switching circuits;Terminology;Vocabulary |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Bemessung;Definition;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Funktion;Grenzwert;Grundbegriff;Halbleiter;Halbleiterbauelement;Halbleiterspeicher;integrierte Schaltung;integrierte Schaltungstechnik;integrierter Schaltkreis;Kenngr？？e;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrowellenschaltung;Schaltkreis;Terminologie;Vokabular |
| 归属： |
国际 |
