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中文名称:电子元件. 电子半导体设备的长期储存. 第4部分: 储存(IEC 62435-4-2018); 德文版本EN IEC 62435-4-2018
标准号:EN IEC 62435-4-2018
标准号: EN IEC 62435-4-2018
英文名称: Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage (IEC 62435-4:2018); German version EN IEC 62435-4:2018
中标分类 电子元器件与信息技术>>半导体集成电路
发布日期: 2019-05-00
发布单位: EN
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实施日期: 2019-05-01
ICS分类 集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学
起草单位/标准公告: DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi
正文语言 英语
原文名称: Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 4: Stockage (IEC 62435-4:2018); Version allemande EN IEC 62435-4:2018
页数: 26P.;A4
附注: History:DIN EN IEC 62435-4-2019-05;DIN EN 62435-4-2017-07
被代替标准: EN 62435-4-2017
引用标准: DIN EN 60068-2-17-1995;DIN EN 60749-20-1-2009;DIN EN 60749-30-2011;DIN EN 61340-5-1-2017;DIN EN 61340-5-2-2002;DIN EN 61340-5-3-2016;DIN EN 61760-2-2007;DIN EN 62258-1-2011;DIN EN 62258-2-2011;DIN EN 62258-5-2007;DIN EN 62258-6-2007;DIN EN 62435-1-2017;DIN EN 62435-2-2017;DIN EN 62435-5-2017;DIN IEC/TS 62668-1-2013;IEC 60050-551-1998;IEC 60068-2-17-1994;IEC 60721-3-1-2018;IEC 60749-20-1-2009;IEC 60749-30-2005;IEC 61340-5-1-2016;IEC/TR 61340-5-2-2018;IEC 61340-5-3-2015;IEC 61760-2-2007;IEC 62258-1-2009;IEC 62258-2-2011;IEC/TR 62258-3-2010;IEC 62258-5-2006;IEC 62258-6-2006;IEC 62435-1-2017;IEC 62435-2-2017;IEC 62435-4-2018;IEC 62435-5-2017;IEC 62435-6-2018;IEC/TS 62668-1-2016;IEC/TS 62668-2-2016;IPC JEDEC-J-STD-020E-2015-02;IPC JEDEC J-STD-033D-2018-03;MIL-PRF-131-2005-08;MIL-PRF-27401-2013-08;MIL-PRF-81705-2014-11;SAE STD 0016-2011-08;JEDEC JEP-160
采用关系: DIN EN IEC 62435-4-2019,IDT;IEC 62435-4-2018,IDT
内容提要(EN): Components;Conditions;Definitions;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Guide books;Inspection;Inventory;Logistics;Long-time behaviour;Long-time storage;Microelectronics;Organisation of ware housing;Procurements;Recommendation;Safety measures;Semiconductor devices;Shelf life;Storage;Storage condition;Storage equipment;Storage time;Testing;Bearings;Requirements;Supplying
内容提要(QT): Manuel;Propriété d'endurance;Dispositif semi-conducteur;Elément de soutènement;Présupposé;Mesure de sécurité;Support;Composant électronique;Microélectronique;Inventaire;Electronique moléculaire;Définition;Inspection;Condition;Dispositif électronique;Contr?le;Matériel d'entreposage;Entreposage;Electronique;Composant;Surveillance;Partie;Conservation;Archivage;Approvisionnement;Stockage;Elément de construction;Durée de stabilité;Matériel et composants électroniques;Recommandation;Eléments de construction;Stabilité au stockage;Stockage à long terme;Logistique;Condition de stockage;Essai
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