标准号: |
EN IEC 62435-4-2018 |
英文名称: |
Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 4: Storage (IEC 62435-4:2018); German version EN IEC 62435-4:2018 |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
发布日期: |
2019-05-00 |
发布单位: |
EN |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2019-05-01 |
ICS分类: |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
起草单位/标准公告: |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
正文语言: |
英语 |
原文名称: |
Composants électroniques - Stockage de longue durée des dispositifs électroniques à semiconducteurs - Partie 4: Stockage (IEC 62435-4:2018); Version allemande EN IEC 62435-4:2018 |
页数: |
26P.;A4 |
附注: |
History:DIN EN IEC 62435-4-2019-05;DIN EN 62435-4-2017-07 |
被代替标准: |
EN 62435-4-2017 |
引用标准: |
DIN EN 60068-2-17-1995;DIN EN 60749-20-1-2009;DIN EN 60749-30-2011;DIN EN 61340-5-1-2017;DIN EN 61340-5-2-2002;DIN EN 61340-5-3-2016;DIN EN 61760-2-2007;DIN EN 62258-1-2011;DIN EN 62258-2-2011;DIN EN 62258-5-2007;DIN EN 62258-6-2007;DIN EN 62435-1-2017;DIN EN 62435-2-2017;DIN EN 62435-5-2017;DIN IEC/TS 62668-1-2013;IEC 60050-551-1998;IEC 60068-2-17-1994;IEC 60721-3-1-2018;IEC 60749-20-1-2009;IEC 60749-30-2005;IEC 61340-5-1-2016;IEC/TR 61340-5-2-2018;IEC 61340-5-3-2015;IEC 61760-2-2007;IEC 62258-1-2009;IEC 62258-2-2011;IEC/TR 62258-3-2010;IEC 62258-5-2006;IEC 62258-6-2006;IEC 62435-1-2017;IEC 62435-2-2017;IEC 62435-4-2018;IEC 62435-5-2017;IEC 62435-6-2018;IEC/TS 62668-1-2016;IEC/TS 62668-2-2016;IPC JEDEC-J-STD-020E-2015-02;IPC JEDEC J-STD-033D-2018-03;MIL-PRF-131-2005-08;MIL-PRF-27401-2013-08;MIL-PRF-81705-2014-11;SAE STD 0016-2011-08;JEDEC JEP-160 |
采用关系: |
DIN EN IEC 62435-4-2019,IDT;IEC 62435-4-2018,IDT |
内容提要(EN): |
Components;Conditions;Definitions;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Guide books;Inspection;Inventory;Logistics;Long-time behaviour;Long-time storage;Microelectronics;Organisation of ware housing;Procurements;Recommendation;Safety measures;Semiconductor devices;Shelf life;Storage;Storage condition;Storage equipment;Storage time;Testing;Bearings;Requirements;Supplying |
内容提要(QT): |
Manuel;Propriété d'endurance;Dispositif semi-conducteur;Elément de soutènement;Présupposé;Mesure de sécurité;Support;Composant électronique;Microélectronique;Inventaire;Electronique moléculaire;Définition;Inspection;Condition;Dispositif électronique;Contr?le;Matériel d'entreposage;Entreposage;Electronique;Composant;Surveillance;Partie;Conservation;Archivage;Approvisionnement;Stockage;Elément de construction;Durée de stabilité;Matériel et composants électroniques;Recommandation;Eléments de construction;Stabilité au stockage;Stockage à long terme;Logistique;Condition de stockage;Essai |
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