| 标准号： |
IEC 60747-16-5-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2013-06 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs.Partie 16-5: Circuits intégrés hyperfréquences-Oscillateurs |
| 页数： |
85P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-16-5 (2013-06);IEC 47E/452/FDIS (2013-03);IEC 47E/401/CDV (2010-09);IEC 47E/374/CD (2008-12) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/452/FDIS-2013 |
| 引用标准： |
IEC 60617;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-4-2007;IEC 60747-16-3-2002;IEC 61340-5-1;IEC/TR 61340-5-2 |
| 采用关系： |
BS EN 60747-16-5-2013,IDT;EN 60747-16-5-2013,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Characteristics;Definitions;Dimensioning;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Functions;Integrated circuit technology;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microwave circuits;Oscillators;Parameters;Ratings;Semiconductor devices;Semiconductor memory;Semiconductors;Switching circuits |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Bemessung;Definition;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Funktion;Grenzwert;Halbleiter;Halbleiterbauelement;Halbleiterspeicher;integrierte Schaltung;integrierte Schaltungstechnik;integrierter Schaltkreis;Kenndaten;Kenngr？？e;Merkmal;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrowellenschaltung;Oszillator;Schaltkreis |
| 归属： |
国际 |
