| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则 (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002); 德文版本 EN 60747-5-1:2001 + A1:2002 + A2:2002 |
| 标准号:EN 60747-5-1-2002 |
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| 标准号： |
EN 60747-5-1-2002 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices; General (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002); German version EN 60747-5-1:2001 + A1:2002 + A2:2002 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2003-01-01 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2003-01-01 |
| ICS分类： |
电子学 (词汇)>>电子学 (词汇) |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemeines (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002); Deutsche Fassung EN 60747-5-1:2001 + A1:2002 + A2:2002 |
| 页数： |
37P.;A4 |
| 代替标准： |
DIN EN 60747-5-5-2011 |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-5-1-2003,IDT;IEC 60747-5-1-1997,IDT;IEC 60747-5-1 AMD 1-2001,IDT;IEC 60747-5-1 AMD 2-2002,IDT |
| 内容提要（CN）： |
术语;验收规范;测量技术;符号;定义;定义;可靠度;电子设备及元件;极限(数学);额定值;分立器件;集成电路;半导体器件;二极管;显示装置;光电子器件 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance specification;Definition;Definitions;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electronic equipment and components;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measuring techniques;Optoelectronic devices;Ratings;Reliability;Semiconductor devices;Symbols;Terminology |
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