| 标准号： |
EN 60747-16-5-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators (IEC 60747-16-5:2013); German version EN 60747-16-5:2013 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2014-04 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2014-04-01 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Teil 16-5: Integrierte Mikrowellenschaltkreise - Oszillatoren (IEC 60747-16-5:2013); Deutsche Fassung EN 60747-16-5:2013 |
| 页数： |
41P;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 60747-16-5 (2014-04);DIN IEC 60747-16-5 (2009-03) |
| 引用标准： |
IEC 60617-DB-2001;IEC 60679-1-2007;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-1 Corrigendum 1-2008;IEC 60747-1 AMD 1-2010;IEC 60747-4-2007;IEC 60747-16-3-2002;IEC 60747-16-3 AMD 1-2009;IEC 61340-5-1-2007;IEC/TR 61340-5-2-2007 |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-16-5-2014,IDT;IEC 60747-16-5-2013,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Characteristics;Definitions;Dimensioning;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Functions;Integrated circuit technology;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microwave circuits;Oscillators;Parameters;Ratings;Semiconductor devices;Semiconductor memory;Semiconductors;Switching circuits;Semiconductor storage |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Bemessung;Definition;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Funktion;Grenzwert;Halbleiter;Halbleiterbauelement;Halbleiterspeicher;integrierte Schaltung;integrierte Schaltungstechnik;integrierter Schaltkreis;Kenndaten;Kenngrose;Merkmal;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Mikrowellenschaltung;Oszillator;Schaltkreis |
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