| 标准号： |
EN 60747-5-5-2015 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers (IEC 60747-5-5:2007 + A1:2013); German version EN 60747-5-5:2011 + A1:2015 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件综合 |
| 发布日期： |
2015-11 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler (IEC 60747-5-5:2007 + A1:2013); Deutsche Fassung EN 60747-5-5:2011 + A1:2015 |
| 页数： |
61P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 60747-5-5 (2015-11);DIN EN 60747-5-5/A1 (2011-12);DIN EN 60747-5-5 (2011-11);DIN IEC 60747-5-5 (2003-05) |
| 被代替标准： |
EN 60747-5-5-2011;EN 60747-5-5/A1-2011 |
| 引用标准： |
DIN EN 60065-2009;DIN EN 60068-1-2015;DIN EN 60068-2-1-2008;DIN EN 60068-2-2-2008;DIN EN 60068-2-6-2008;DIN EN 60068-2-14-2010;DIN EN 60068-2-17-1995;DIN EN 60068-2-20-2009;DIN EN 60068-2-27-2010;DIN EN 60068-2-30-2006;DIN EN 60068-2-58-2005;DIN EN 60068-2-78-2014;DIN EN 60112-2010;DIN EN 60216-1-2002;DIN EN 60216-2 (2006-04);DIN EN 60270 (2001-08);DIN EN 60664-1 (2008-01);DIN EN 60672-2 (2000-10);DIN EN 60695-11-5 (2005-11);IEC 60065 (2001-12);IEC 60068-1 (1988);IEC 60068-2-1 (2007-03);IEC 60068-2-2 (1974);IEC 60068-2-6 (2007-12);IEC 60068-2-14 (1984);IEC 60068-2-17 (1994-07);IEC 60068-2-27 (2008-02);IEC 60068-2-30 (2005-08);IEC 60068-2-58 (2005-02);IEC 60068-2-78 (2001-08);IEC 60112 (2003-01);IEC 60216-1 (2001-07);IEC 60216-2 (2005-08);IEC 60270 (2000-12);IEC 60664-1 (2007-04);IEC 60672-2 (1999-12);IEC 60695-11-5 (2004-12);IEC 60747-5-1 (1997-08);IEC 60747-5-2 (1997-09);IEC 60747-5-3 (1997-08) |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-5-5-2015,IDT;IEC 60747-5-5-2007,IDT;IEC 60747-5-5 AMD 1-2013,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Bandwidths;Discrete devices;Display devices;Electrical engineering;Electrical properties;Electrical properties and phenomena;Electrical safety;Electronic equipment and components;Environmental condition;Insulating resistance;Insulation test;Insulation voltage;Integrated circuits;Luminous intensity;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Protection against electric shocks;Ratings;Safety;Safety devices;Safety requirements;Semiconductor devices;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Bandbreite;Einzelbauelement;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Elektroschutz;Elektrotechnik;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Isolationsprufung;Isolationsspannung;Isolationswiderstand;Kenndaten;Lichtstarke;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Optokoppler;Prufung;Prufverfahren;Sicherheit;Sicherheitsanforderung;Sicherheitseinrichtung;Sichtanzeige;Umgebungsbedingung |
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