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中文名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准号:SJ/T 11766-2020
标准号： SJ/T 11766-2020
英文名称：
中标分类： 电子元器件与信息技术>>光电子器件综合
发布日期： 20210401
发布单位： CN-GB
标准状态： 请与本站工作人员进行确认
实施日期： 2020
ICS分类： 半导体器件综合>>半导体器件综合
正文语言： 汉语
页数： 8
附注： 工信部公告2020年第48号
代替标准：
被代替标准：
引用标准：
采用关系：
内容提要（CN）： 本标准规定了光电耦合器件（以下简称光耦）1Hz～300kHz频率范围内噪声参数测试方法及要求。
归属： 中国
下载：“光电子器件综合”相关标准(下载...)

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下载“半导体器件综合”相关标准(下载...)

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