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网站首页 >> 外国标准>> ASTM E1161-2009(2014)
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中文名称：半导体和电子元件射线检验的标准实施规程
标准号:ASTM E1161-2009(2014)
标准号： ASTM E1161-2009(2014)
英文名称： Standard Practice for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components
中标分类： 电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合
发布日期： 2009
发布单位： US-ASTM
标准状态： 请与本站工作人员进行确认
确认日期： 2014
ICS分类： 半导体器件综合>>半导体器件综合
起草单位/标准公告： E07.01
***： Prac
页数： 10P.;A4
内容提要（EN）： capacitor; diode; electronic device; hybrid; inductor; microcircuits; microcircuit array; monolithic; multichip; nondestructive testing; radiographic; radiologic; radiology; radioscopy; rectifier; relay; resistor; semiconductor; switches; transformer; transistor; tunnel diode; voltage regulator; x-ray
归属： 美国
下载：“半导体分立器件综合”相关标准(下载...)

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