标准号: |
IEC 60749-17-2019 |
英文名称: |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
发布日期: |
2019-03-00 |
发布单位: |
IX-IEC |
标准状态: |
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ICS分类: |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
起草单位/标准公告: |
IEC/TC 47 Halbleiterbauelemente;IEC/TC 47 Semiconductor devices;CEI/CE 47 Dispositifs à semiconducteurs |
正文语言: |
双语(英,法) |
原文名称: |
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 17: Irradiation aux neutrons |
页数: |
17P.;A4 |
附注: |
History:IEC 60749-17-2019-03;IEC 47/2538/FDIS-2019-01;IEC 47/2465/CDV-2018-04;IEC 60749-17-2003-02;IEC 47/1668/FDIS-2002-11;IEC 47/1588/CDV-2001-11 |
被代替标准: |
IEC 47/2538/FDIS-2019;IEC 60749-17-2003 |
内容提要(EN): |
Climate;Climatic tests;Components;Destructive testing;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Integrated circuits;Mechanical testing;Neutron radiation;Radiation effects;Semiconductor devices;Semiconductors;Testing |
归属: |
国际 |