标准号: |
BS IEC 60747-2-2000 |
英文名称: |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Rectifier diodes |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体整流器件 |
发布日期: |
2000-07-15 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2000-07-15 |
ICS分类: |
二极管>>二极管 |
起草单位/标准公告: |
BSI |
正文语言: |
英语 |
页数: |
68P.;A4 |
被代替标准: |
97/201807 DC-1997;BS 6493-1.2-1984 |
采用关系: |
IEC 60747-2-2000,IDT |
内容提要(CN): |
疲劳试验;合格试验;二极管;验收检验;连续性试验;整流二极管;分立器件;半导体;可靠度;电子设备及元件;电学测量;电子工程;组件;元部件;电气工程;测量技术;常规检验;检验;极限(数学);额定值;集成电路;定义;定义;规范(验收);测量;作标记;符号;半导体器件 |
内容提要(EN): |
Acceptance inspection;Components;Continuity tests;Definition;Definitions;Diodes;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Fatigue tests;Inspection;Integrated circuits;Limits (mathematics);Marking;Measurement;Measuring techniques;Qualification tests;Ratings;Rectifier diodes;Reliability;Routine check tests;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Symbols |
归属: |
英国 |