| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：电子元器件用质量评估协调体系规范.空白详细规范.MOS读/写静态存贮器单晶硅电路 |
| 标准号:BS CECC 90111-1987 |
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| 标准号： |
BS CECC 90111-1987 |
| 英文名称： |
Specification for harmonized system of quality assessment for electronic components - Blank detail specification - MOS read/write static memories silicon monolithic circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>计算机设备 |
| 发布日期： |
1987-05-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1987-05-15 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
32P;A4 |
| 采用关系： |
CECC 90111-1986,IDT |
| 内容提要（CN）： |
质量管理;电子设备及元件;认可试验;统计质量控制;电路;资格鉴定;硅;质量保证体系;半导体器件;半导体存储器;规范(批准);单片集成电路;集成电路;详细规范;集成存储器电路;直接存取存储器;评估的质量;矽;金属氧化物半导体;计算机存储设备;数字电路;电子存储器 |
| 内容提要（EN）： |
Approval testing;Assessed quality;Circuits;Computer storage devices;Detail specification;Digital circuits;Direct-access storage;Electronic equipment and components;Electronic storage;Integrated circuits;Integrated memory circuits;Metal oxide semiconductors;Monolithic integrated circuits;Qualification approval;Quality assurance systems;Quality control;Semiconductor devices;Semiconductor storage;Silicon;Specification (approval);Statistical quality control |
| 归属： |
英国 |
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