| 标准号： |
BS ISO 16700-2016 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Guidelines for calibrating image magnification |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布日期： |
2016-07-31 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2016-07-31 |
| ICS分类： |
光学设备>>光学设备 |
| 起草单位/标准公告： |
CII/9 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
30P.;A4 |
| 被代替标准： |
BS ISO 16700-2004 |
| 引用标准： |
ISO/IEC 17025-2005;ISO Guide 30;ISO Guide 34;ISO Guide 35;ISO 5725-1;ISO/IEC Guide 98-3;GUM-1995 |
| 采用关系： |
ISO 16700-2016,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Scanning electron microscopes;Electron microscopes;Microscopes;Optical instruments;Electron optics;Electron beams;Magnification;Optical phenomena;Calibration;Control samples;Accuracy |
| 归属： |
英国 |
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