| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法 |
| 标准号:BS ISO 29301-2010 |
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| 标准号： |
BS ISO 29301-2010 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Analytical transmission electron microscopy - Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布日期： |
2010-06-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-06-30 |
| ICS分类： |
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| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
52P;A4 |
| 被代替标准： |
09/30179503 DC-2009 |
| 采用关系： |
ISO 29301-2010,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析;分析法;校准;定义;衍射;电子束;电子衍射;电子显微镜;电子显微镜学;调焦点;图像产品;放大;分析方法;微量分析;显微术;光学仪器;图象传输;换算;清晰度;传输 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analytical methods;Calibration;Definitions;Diffraction;Electron beams;Electron diffraction;Electron microscopes;Electron microscopy;Focusing;Image production;Magnification;Methods of analysis;Microanalysis;Microscopy;Optical instruments;Picture transmissions;Scaling;Sharpness;Transmission |
| 归属： |
英国 |
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下载：“电子光学与其他物理光学仪器”相关标准( 下载...)
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