| 标准号： |
BS EN 60747-5-3-2001 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Optoelectronic devices - Measuring methods |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
1998-01-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1998-01-15 |
| ICS分类： |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
48P.;A4 |
| 代替标准： |
BS EN 60747-5-5-2011(部分代替) |
| 采用关系： |
EN 60747-5-3-2001,IDT;EN 60747-5-3/A1-2002,NEQ;IEC 60747-5-3-1997,IDT;TS EN 60747-5-3-2003,IDT |
| 内容提要（CN）： |
频带宽度;暗电流;二极管;分立器件;显示装置;电性质和电现象;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;集成电路;发光强度;测量技术;光电子器件;光耦合器;光电二极管;辐射强度;半导体器件;测试 |
| 内容提要（EN）： |
Bandwidths;Dark current;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electrical properties and phenomena;Electronic equipment and components;Insulating resistance;Insulation test;Integrated circuits;Luminous intensity;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Photodiodes;Radiant intensity;Semiconductor devices;Testing |
| 归属： |
英国 |
