| 标准号： |
BS EN 60747-16-5-2013 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Microwave integrated circuits. Oscillators |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2013-09-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2013-09-30 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
44P;A4 |
| 采用关系： |
EN 60747-16-5-2013,IDT;IEC 60747-16-5-2013,IDT |
| 内容提要（CN）： |
特征;定义;尺寸选定;电气工程;电子工程;电子设备及元件;功能;集成电路工艺;集成电路;极限(数学);测量;测量技术;微电子学;微波电路;振荡器;参数;额定值;半导体器件;半导体存储器;半导体;开关电路 |
| 内容提要（EN）： |
Characteristics;Definitions;Dimensioning;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Functions;Integrated circuit technology;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Microwave circuits;Oscillators;Parameters;Ratings;Semiconductor devices;Semiconductor memory;Semiconductors;Switching circuits |
| 归属： |
英国 |
