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网站首页 >> 外国标准>> SJ/T 11166-1998
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中文名称：集成电路卡(IC卡)插座总规范
标准号:SJ/T 11166-1998
标准号： SJ/T 11166-1998
英文名称： Generic specification for sockets for integrated circuit(s)card (IC card)
中标分类： 电子元器件与信息技术>>安装、接线连接件
发布日期： 1998-03-11
发布单位： CN-SJ
标准状态： 请与本站工作人员进行确认
实施日期： 1998-05-01
确认日期： 2017-05-12
ICS分类： 插头和插座装置、连接器>>插头和插座装置、连接器
起草单位/标准公告： 江苏惠通集团有限责任公司;电子部标准化研究所;电子部第四十所
正文语言： 汉语
页数： 15P.;A4
附注： 根据工信部公告工科（2010）77号文，本标准继续有效。;根据中华人民共和国工业和信息化部公告2017年第23号,本标准继续有效。
内容提要（CN）： 集成电路卡;IC卡;插座;规范
归属： 美国
下载：“安装、接线连接件”相关标准(下载...)

DL/T 1192-2020 架空输电线路接续管保护装置  
ASTM B942-2010(2015) 压接电线电触头性能规格和质量保证的标准指南  
ASTM B913-2005(2015) 评价16尺和直径较小的绞接和固体导体的卷曲电气连接的标准试验方法  
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NF C90-700-1-3-2018 电子组件用连接材料.第1-3部分:电子焊接用电子级钎焊合金及有焊剂和无焊剂的固体焊料用要求  
NF C61-720/A13-2018 电气附件. 家用和类似用途的电缆卷筒  
JIS C2804 ERRATUM 1-2018 勘误  
SJ/T 11166-1998 集成电路卡(IC卡)插座总规范  
SJ 3170-1988 TX3型不可重接直流同心插座  

 

下载“插头和插座装置、连接器”相关标准(下载...)

GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比（VSWR）  
GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗  
GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延  
GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减  
GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗）  
GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比  
GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗  
GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射  
GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法  
GB/T 39341-2020 宇航用高速传输连接器通用规范  

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