| 标准号： |
ISO 22493-2014 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary |
| 中标分类： |
仪器仪表>>记录仪器及光线示波器 |
| 发布日期： |
2014-04 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik;ISO/TC 202 Microbeam analysis;ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
20P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO 22493-2008;ISO/FDIS 22493-2013 |
| 引用标准： |
ISO 704-2009;ISO 1087-1-2000;ISO 10241-1992;ISO 18115-1-2013;ISO 23833-2013 |
| 采用关系： |
BS ISO 22493-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Definitions;Electron beams;Methods of analysis;Microanalysis;Microscopy;Scanning electron microscopes;Terminology;Vocabulary |
| 归属： |
国际 |
