| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：微束分析. 分析电子显微术. 词汇 |
| 标准号:NF X21-016-2014 |
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| 标准号： |
NF X21-016-2014 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Vocabulary |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2014-03-26 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2014-03-26 |
| ICS分类： |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
| 正文语言： |
法语 |
| 原文名称： |
Analyse par microfaisceaux - Microscopie électronique analytique - Vocabulaire |
| 页数： |
30P.;A4 |
| 采用关系： |
ISO 15932-2013,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Electron beams;Microscopy;Vocabulary;Microscopic analysis;Microscopes |
| 内容提要（QT）： |
ANALYSE MICROSCOPIQUE;MICROSCOPIE;FAISCEAU ELECTRONIQUE;MICROSCOPE OPTIQUE;VOCABULAIRE;Microscope;Faisceau electronique |
| 归属： |
法国 |
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