标准分类 Standards |
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中文名称:微束分析. 扫描电子显微术. 词汇 |
标准号:BS ISO 22493-2014 |
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标准号: |
BS ISO 22493-2014 |
英文名称: |
Microbeam analysis. Scanning electron microscopy. Vocabulary |
中标分类: |
综合>>物理学与力学 |
发布日期: |
2014-04-30 |
发布单位: |
GB-BSI |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2014-04-30 |
ICS分类: |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
起草单位/标准公告: |
CII/9 |
正文语言: |
英语 |
页数: |
32P.;A4 |
被代替标准: |
BS ISO 22493-2008 |
引用标准: |
ISO 704;ISO 1087-1;ISO 10241;ISO 18115-1-2013;ISO 23833 |
采用关系: |
ISO 22493-2014,IDT |
内容提要(EN): |
Scanning electron microscopes;Electron microscopes;Microscopes;Electron beams;Electron optics;Optical instruments;Vocabulary;Terminology;Instrumental methods of analysis |
归属: |
英国 |
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