| 标准号： |
IEC 60748-1-2002 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 1: General |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2002-05 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
电子学 (词汇)>>电子学 (词汇) |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47A |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Dispositifs A Semiconducteurs - Circuits Integres - Partie 1: Generalites (Edition 2.0) |
| 页数： |
57P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60748-1 (2002-05);IEC 47A/637/FDIS (2002-01);IEC 47A/562/CDV (1999-06);IEC 47A/541/CDV (1999-01);IEC 60748-1 AMD 3 (1995-01);IEC/DIS 47A(CO)303 (1994-08);IEC 60748-1 AMD 2 (1993-08);IEC/DIS 47(CO)1236 (1991-06);IEC/DIS 47(CO)1220 (1991-06);IEC 60748-1 AMD 1 (1991-05);IEC/DIS 47A(CO)260 (1991-02);IEC 60748-1 (1984);IEC 60148B (1979);IEC 60148A (1974);IEC 60148 (1969) |
| 被代替标准： |
IEC 47A/541/CDV-1999;IEC 47A/637/FDIS-2002;IEC 60748-1-1984;IEC 60748-1 AMD 1-1991;IEC 60748-1 AMD 2-1993;IEC 60748-1 AMD 3-1995 |
| 引用标准： |
IEC 60050-521-2002;IEC 60319-1999;IEC 60617-12-1997;IEC 60617-13-1993;IEC 60747-1-1983;IEC 60748 Reihe |
| 采用关系： |
BS IEC 60748-1-2002,IDT |
| 内容提要（CN）： |
极限(数学);半导体;测量;电子设备及元件;电气工程;半导体器件;集成电路;总论;定义;定义;额定值;组件;可靠度;数字集成电路;测量技术;模拟电路;电子工程;符号;静电学 |
| 内容提要（EN）： |
Analogue circuits;Components;Definition;Definitions;Digital integrated circuits;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Electrostatics;General section;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measurement;Measuring techniques;Ratings;Reliability;Semiconductor devices;Semiconductors;Symbols |
| 内容提要（QT）： |
Allgemeines;Analogschaltung;Bauelement;Begriffe;Definition;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrostatik;Elektrotechnik;Grenzwert;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Digitalschaltung;integrierte Schaltung;Kenndaten;Kennwert;Kurzzeichen;Messung;Messverfahren;Symbol;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
