| 标准号： |
IEC 60749-24-2005 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST |
| 中标分类： |
轻工文化与生活用品>>家用空调与冷藏器具 |
| 发布日期： |
2005-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 47 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebest？ndigkeit - Hochbeschleunigende Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung |
| 页数： |
28P.;A4 |
| 附注： |
Eingeschr?nkter sachlicher Geltungsbereich in Abschnitt 1 (Scope). |
| 被代替标准： |
IEC 47/1736/FDIS-2003;IEC 60749-24-2004;IEC/PAS 62336-2002 |
| 引用标准： |
IEC 60749-5-2003;IEC 60749-33-2004 |
| 采用关系： |
DIN EN 60749-24-2004,IDT;BS EN 60749-24-2004,IDT;EN 60749-24-2004,IDT;OEVE/OENORM EN 60749-24-2004,IDT |
| 内容提要（CN）： |
粘结强度;气候试验;元部件;破坏性试验;电气工程;电子工程;电子设备及元件;环境试验;损坏分析;损坏率;衰弱率;失效率;集成电路;机械试验;抗湿;半导体器件;半导体;故障统计;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Bond strength;Climatic tests;Components;Destructive testing;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Environmental tests;Failure analysis;Failure frequency;Failure rate;Failure rates;Integrated circuits;Mechanical testing;Moisture resistance;Semiconductor devices;Semiconductors;Statistics of failure;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Ausfallanalyse;Ausfallh？ufigkeit;Ausfallquote;Ausfallrate;Ausfallstatistik;Bauelement;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Feuchtigkeitsbest？ndigkeit;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Klimaprüfung;Kontaktfestigkeit;mechanische Prüfung;Prüfung;Prüfverfahren;Umgebungsprüfung;Umweltprüfung;zerst？rende Prüfung |
| 归属： |
国际 |
