标准号: |
IEC 62258-5-2006 |
英文名称: |
Semiconductor die products - Part 5: Requirements for information concerning electrical simulation |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>微集成电路综合 |
发布日期: |
2006-08 |
发布单位: |
IX-IEC |
标准状态: |
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ICS分类: |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
起草单位/标准公告: |
IEC/TC 47 |
正文语言: |
英语 |
原文名称: |
Produits de puce de semiconducteurs – Partie 5: Exigences pour les informations concernant la simulation électrique (Edition 1.0) |
页数: |
12P.;A4 |
附注: |
History:IEC 62258-5 (2006-08);IEC 47/1869/FDIS (2006-06);IEC 47/1837/CDV (2005-08) |
被代替标准: |
IEC 47/1869/FDIS-2006 |
引用标准: |
IEC 62258-1-2005;IEC 62258-2-2005 |
采用关系: |
DIN EN 62258-5-2007,IDT;BS EN 62258-5-2006,IDT;EN 62258-5-2006,IDT;NF C96-034-5-2006,IDT;OEVE/OENORM EN 62258-5-2007,IDT;PN-EN 62258-5-2006,IDT |
内容提要(CN): |
组装件;特性;芯片;组件;交付;电的;电气工程;电子工程;电子设备及元件;集成电路;材料;采办;生产;半导体器件;半导体;模拟;仿真摸型;规范(验收);试验;薄片 |
内容提要(EN): |
Assemblies;Behaviour;Chips;Components;Connections;Delivery;Electrical;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Integrated circuits;Materials;Mechanical testing;Procurements;Production;Semiconductor devices;Semiconductors;Simulation;Simulation model;Specification (approval);Testing;Wafers |
内容提要(QT): |
Anforderung;Anschluss;Bauelement;Baugruppe;Beschaffung;Chip;elektrisch;elektrische Messung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Lieferung;Material;mechanische Prüfung;Produktion;Prüfung;Prüfverfahren;Simulation;Simulationsmodell;Verhalten;Wafer |
归属: |
国际 |