| 标准号： |
IEC 60747-5-6-2016 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体光敏器件 |
| 发布日期： |
2016-02 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-6: Dispositifs optoélectroniques - Diodes électroluminescentes |
| 页数： |
168P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-6 (2016-02);IEC 47E/529/FDIS (2015-11);IEC 47E/470/CDV (2014-04);IEC 47E/418/CD (2011-09) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/529/FDIS-2015;IEC 60747-5-1-1997(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-1 AMD 1-2001(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-1 AMD 2-2002(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-1 Edition 1.2-2002(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-2-1997(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-2 AMD 1-2002(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-2 Edition 1.1-2009(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-3-1997(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-3 AMD 1-2002(部分代替)(部分代替);IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009(部分代替)(部分代替) |
| 引用标准： |
IEC 60051-1-2016;IEC 60051-2-1984;IEC 60051-3-1984;IEC 60051-3 AMD 1-1994;IEC 60051-4-1984;IEC 60051-5-1985;IEC 60051-6-1984;IEC 60051-7-1984;IEC 60051-8-1984;IEC 60051-9-1988;IEC 60051-9 AMD 1-1994;IEC 60051-9 AMD 2-1995;IEC 60068-2-30-2005;IEC 60749-6-2002;IEC 60749-10-2002;IEC 60749-12-2002;IEC 60749-14-2003;IEC 60749-15-2010;IEC 60749-20-2008;IEC 60749-21-2011;IEC 60749-24-2005;IEC 60749-25-2003;IEC 60749-36-2003;ISO 2859-1974 |
| 内容提要（QT）： |
Begriffe;Bemessung;Definition;Einzelbauelement;elektrische Eigenschaft;elektronisches Bauelement;Empfindlichkeit;Farbkorrektur;Halbleiterbauelement;Hellempfindlichkeitsgrad;integrierter Schaltkreis;Kenndaten;Kennwert;LED;Leuchtdiode;Lichtst？rke;Messung;Messverfahren;optische Eigenschaft;optoelektronische Baueinheit |
| 归属： |
国际 |
