| 标准号： |
IEC 60747-5-1-1997 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-1: Optoelectronic devices - General |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件综合 |
| 发布日期： |
1997-08 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47C |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente - Allgemeines |
| 页数： |
59P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-5-1 (1997-08);IEC 47C/173/FDIS (1997-03);IEC 47C/145/CDV (1996-06);IEC 47C/143/CDV (1996-05);IEC 47C/109B/CDV (1995-09);IEC 47C/109/CDV (1995-07);IEC 60747-5 AMD 2 (1995-04);IEC 60747-5 AMD 1 (1994-11);IEC 47C/31/DIS (1994-10);IEC/DIS 47C(CO)16 (1992-12);IEC/DIS 47C(CO)12 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)11 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)10 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)9 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)8 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)7 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)6 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)5 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)4 (1992-05);IEC/DIS 47C(CO)3 (1992-05);IEC 60747-5 (1992-02);IEC/DIS 47C(CO)2 (1992-02);IEC/DIS 47C(CO)1 (1992-02);IEC/DIS 47(CO)1292 (1991-02);IEC/DIS 47(CO)1284 (1991-02);IEC 60747-5 (1984);IEC 60147-1K (1981) |
| 代替标准： |
IEC 60747-5-5-2007;IEC 60747-5-5 Edition 1.1-2013;IEC 60747-5-7-2016(部分代替);IEC 60747-5-6-2016(部分代替) |
| 被代替标准： |
IEC 47C/143/CDV-1996;IEC 47C/145/CDV-1996;IEC 47C/173/FDIS-1997;IEC 60747-5-1992;IEC 60747-5 AMD 1-1994;IEC 60747-5 AMD 2-1995 |
| 引用标准： |
IEC 60050-731-1991;IEC 60050-845-1987;IEC 60664-1-1992 |
| 采用关系： |
DIN EN 60747-5-1-2002,IDT;DIN EN 60747-5-1-2002,IDT;DIN EN 60747-5-1-2003,IDT;BS EN 60747-5-1-1998,IDT;EN 60747-5-1-2001,IDT;prEN 60747-5-1-2000,IDT;NF C96-005-1-2001,IDT;C96-005-1PR,IDT;SN EN 60747-5-1-2001,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-1-2002,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-1-2000,IDT;OEVE/OENORM EN 60747-5-1+A1+A2-2003,IDT;PN-EN 60747-5-1-2004,IDT |
| 增补： |
IEC 60747-5-1 AMD 2-2002;IEC 60747-5-1 AMD 1-2001 |
| 内容提要（CN）： |
显示装置;二极管;半导体器件;分立器件;电子设备及元件;光电子器件;极限(数学);验收规范;符号;可靠度;集成电路;定义;定义;测量技术;术语;额定值 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance specification;Definitions;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electronic equipment and components;Integrated circuits;Limits (mathematics);Measuring techniques;Optoelectronic devices;Ratings;Reliability;Semiconductor devices;Symbols;Terminology |
| 内容提要（QT）： |
Abnahmebedingung;Begriffe;Definition;Diode;Einzelbauelement;elektronisches Bauelement;Grenzwert;Halbleiterbauelement;integrierter Schaltkreis;Kennwert;Messverfahren;optoelektronische Baueinheit;Sichtanzeige;Symbol;Terminologie;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
