| 标准号： |
BS IEC 60747-14-2-2000 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Semiconductor devices - Semiconductor sensors - Hall elements |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2001-05-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2001-05-15 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
18P.;A4 |
| 被代替标准： |
93/200028 DC-1993 |
| 采用关系： |
IEC 60747-14-2-2000,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电子设备及元件;半导体器件;霍耳效应;测头;集成电路;磁场效应 |
| 内容提要（EN）： |
Electronic engineering;Hall effect;Optoelectronic devices;Semiconductor devices;Sensors |
| 归属： |
英国 |
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