| 标准号： |
BS CECC 50000-1987 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electronic components - Generic specification: discrete semiconductor devices |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
1987-10-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1987-10-30 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
154P.;A4 |
| 被代替标准： |
87/27234 DC-1987;BS 9300-1969;BS CECC 50000-1981;85/24275 DC |
| 采用关系： |
CECC 50000-1986,IDT |
| 内容提要（CN）： |
能力鉴定;机械试验;规范(验收);资格鉴定;半导体整流器;抽样方法;电子设备及元件;加速度试验;作标记;名称与符号;试验设备;试验条件;电路;统计质量控制;认可试验;击穿电压;性能试验;环境试验;半导体闸流管;色码;电功率测量;方位;半导体器件;热试验;质量保证体系;检验;电压测量;电气试验;漏泄试验;电流测量;晶体管;耐久试验;电学测量;外观检查(试验);质量控制;电容测量;验收(鉴定);乱真信号;半导体二极管;瞬时电压;活化热 |
| 内容提要（EN）： |
Accelerated testing;Acceptance (approval);Approval testing;Assessed quality;Breakdown voltage;Capability approval;Capacitance measurement;Circuits;Colour codes;Current measurement;Designations;Electrical measurement;Electrical testing;Electronic equipment and components;Endurance testing;Environmental testing;Heat of activation;Inspection;Leak tests;Marking;Mechanical testing;Noise (spurious signals);Orientation;Performance testing;Power measurement (electric);Qualification approval;Quality assurance systems;Quality control;Sampling methods;Semiconductor devices;Semiconductor diodes;Semiconductor rectifiers;Specification (approval);Statistical quality control;Test equipment;Testing conditions;Thermal testing;Thyristors;Transient voltages;Transistors;Visual inspection (testing);Voltage measurement |
| 归属： |
英国 |
