| 标准号： |
ISO/TTA 3-2001 |
| 英文名称： |
Polycrystalline materials - Determination of residual stresses by neutron diffraction |
| 中标分类： |
冶金>>半金属与半导体材料综合 |
| 发布日期： |
2001-09-15 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
无损检测>>无损检测 |
| 起草单位/标准公告： |
VAM |
| 正文语言： |
其他 |
| 页数： |
61P.;A4 |
| 采用关系： |
NPR-ISO/TTA 3-2002 en-2002,IDT |
| 内容提要（CN）： |
Crystalline;Definition;Definitions;Determination;Materials;Materials testing;Mathematical calculations;Measuring techniques;Neutron diffraction;Non-destructive testing;Polycrystalline semiconductor;Residual stresses |
| 内容提要（EN）： |
Crystalline;Definitions;Determination;Materials;Materials testing;Mathematical calculations;Measuring techniques;Neutron diffraction;Non-destructive testing;Polycrystalline semiconductor;Residual stresses |
| 归属： |
国际 |
