| 标准号： |
NF C93-778-1-1-2015 |
| 英文名称： |
Device embedded substrate - Part 1-1 : generic specification - Test methods |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2015-10-16 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
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| 实施日期： |
2015-10-16 |
| ICS分类： |
印制电路和印制电路板>>印制电路和印制电路板 |
| 正文语言： |
法语 |
| 原文名称： |
Substrat avec appareil(s) intégré(s) - Partie 1-1 : spécification générique - Méthode d'essai |
| 页数： |
60P.;A4 |
| 引用标准： |
CEI 60068-2-1;CEI 60068-2-2;CEI 61189-3;CEI/TS 62878-2-4:2015 |
| 采用关系： |
EN 62878-1-1-2015,IDT;CEI 628787-1-1-2015,IDT |
| 内容提要（QT）： |
CIRCUIT IMPRIME;CARTE IMPRIMEE;CABLAGE;MATERIAU;SUBSTRAT ISOLANT;MATIERE ORGANIQUE;SPECIFICATION GENERIQUE;DIMENSION;METHODE D'ESSAI;EXAMEN VISUEL;ESSAI ELECTRIQUE;TENSION DE TENUE;RESISTANCE D'ISOLEMENT;ESSAI MECANIQUE;ENVIRONNEMENT;ESSAI AU CHOC THERMIQUE;ESSAI D'IMMERSION;PROTECTION CONTRE L'HUMIDITE;CONTROLE;Methode macroscopique;Materiau;Controle;Analyse macroscopique;Conditions generales;Canalisation electrique (fil);Isolation electrique;Essai electrique;Determination de la matiere organique;Materiau impermeable a l'humidite;Essai mecanique;Produit organique;Accord;Carte de circuit imprime;Analyse macrographique;Essai;Resistance electrique (propriete) |
| 归属： |
法国 |
