| 标准号： |
IEC 60747-15-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2010-12 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-12 |
| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs – Dispositifs discrets – Partie 15: Dispositifs de puissance à semiconducteurs isolés (Edition 2.0) |
| 页数： |
54P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-15 (2010-12);IEC 47E/403/FDIS (2010-09);IEC 47E/366/CDV (2008-05);IEC 47E/322A/CD (2007-03);IEC 47E/322/CD (2007-02);IEC 60747-15 (2003-06);IEC 47E/236/FDIS (2003-02);IEC 47E/189/CDV (2001-07) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/403/FDIS-2010;IEC 60747-15-2003 |
| 引用标准： |
IEC 60270;IEC 60664-1-2007;IEC 60721-3-3-1994;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-2;IEC 60747-6;IEC 60747-7;IEC 60747-8;IEC 60747-9;IEC 60749-5;IEC 60749-6;IEC 60749-10;IEC 60749-12;IEC 60749-15;IEC 60749-21;IEC 60749-25;IEC 60749-34 |
| 采用关系： |
C96-015PR,IDT |
| 内容提要（CN）： |
验收检验;组件;定义(术语);分立器件;电气工程;电绝缘材料;电子工程;电子设备及元件;耐久试验;检验;集成电路;测量;测量技术;可靠度;半导体器件;符号;试验 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance inspection;Components;Definitions;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical insulating materials;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Endurance testing;Inspection;Integrated circuits;Measurement;Measuring techniques;Reliability;Semiconductor devices;Symbols;Testing |
| 内容提要（QT）： |
Abnahmeprüfung;Bauelement;Begriffe;Definition;Einzelbauelement;Elektroisolierstoff;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;integrierter Schaltkreis;Kurzzeichen;Langzeitprüfung;Messung;Messverfahren;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Zuverl？ssigkeit |
| 归属： |
国际 |
