| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：半导体器件.MOS晶体管的热载流子试验(IEC 62416-2010);德文版本EN 62416-2010 |
| 标准号:EN 62416-2010 |
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| 标准号： |
EN 62416-2010 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors (IEC 62416:2010); German version EN 62416:2010 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2010-12 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2010-12-01 |
| ICS分类： |
三极管>>三极管 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Hot-Carrier-Prüfverfahren für MOS-Transistoren (IEC 62416:2010); Deutsche Fassung EN 62416:2010 |
| 页数： |
12P;A4 |
| 采用关系： |
DIN EN 62416-2010,IDT;IEC 62416-2010,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Electrical engineering;Electronic equipment and components;Life (durability);Loading tests;MOS circuits;Semiconductor devices;Specification (approval);Stress;Testing;Testing conditions;Transistors;Wafers |
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